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利用荧光光谱法测定钨矿中主次元素探析

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利用荧光光谱法测定钨矿中主次元素探析与建材装饰2015年1月利用荧光光谱法测定钨矿中主次元素探析曹克俊(安徽省地质矿产勘查局326地质队安徽安庆246003)摘要:钨矿在工业生产中起着重要作用,所以钨矿中主次元素的检测对于钨产业的发展至关重要。本文采用熔融玻璃片法,使用X射线荧光光谱法测定钨矿石中的钨、磷等主次元素。所用的样本符合国家标准(1级),用α系数内标法和康普顿散射作内标校正基体效应所用校准。检测结果显示:主、次量组分方法的精密度(RSD,n=10),即0.37~6.80%。因此,X射线荧光光谱法测定钨矿石中主次元素的准确、快捷和方便的方法,可以有效地减少对环境的污染。关键词:荧光光谱法;钨矿;主次元素中图分类号:P575.5文献标识码:A文章编号:1673-0038(2015)04-0114-03引言钨的元素符号为W,原子序数为74,属于元素周期表中第六周期(第二长周期)的VIB族,相对原子质量为183.85。钨是溶点最高、比重最大的金属,其硬度仅次于金刚石,具有良好的导电和传热性能。钨矿作为重要的战略资源,属于国家保护性特殊资源。虽然中国钨矿资源储量巨大,但是过度开采使得资源面临枯竭。我国为了保护钨矿的优势地位,需要建立有效的元素分析方法,即X射线荧光光谱分析法[1~2]。该方法的使用可以更好地对钨矿资源进行评价,实现钨矿的可持续发展。X射线荧光光谱分析法广泛应用于地质学领域,但是对钨矿主次元素的研究文献比较少。目前,铁矿、锌铁矿和锰铁矿可以采用X射线荧光光谱分析法,并取得比较理想的效果。常规钨矿样品中主次元素分析法为化学分析发展,该方法成本高、污染环境和步骤繁琐,所以不能进行大范围的主次元素检测。本文主要研究X射线荧光光谱分析法在钨矿中主次元素的分析。1实验部分1.1主次元素测量本文采用顺序扫描式波长X荧光光谱仪(荷兰PANalytical公司生产),期参数为:PW4400,真空度小于10Pa,超尖锐(SST)陶瓷薄铍端窗(75滋m)X射线管,额定电压60kW,额度电流125mA。该X荧光光谱仪采用d=32mm的自动交换器,循环冷却水系统(LabTechKF700);中央处理器(DelloptipexGX270),定量分析软件(SuperQ4.1D);输出设备为HP6500彩色打印机;X荧光分析高频加热型自动熔样机(BBG-2型);分析天平的感量为0.

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