您好,欢迎访问石油人文库

上传文档

当前位置:首页 > 石油·科技 > 钻井·录井·测井 > 书籍 > GD-MS法测定高纯钨锭中多种痕量杂质元素

GD-MS法测定高纯钨锭中多种痕量杂质元素

还剩... 页未读,继续阅读

免费阅读已结束,点击付费阅读剩下 ...

金币 0 个,已有29人购买

免费阅读

阅读已结束,您可以下载文档离线阅读

金币 5 个,已有0人下载

付费下载
文档简介:

第22卷增刊20l3年11月矿冶MINING&METALLURGYVo1.22,SupplNovember2013文章编号:1005-7854(2013)S0-0149-03GD—MS法测定高纯钨锭中多种痕量杂质元素李宝城刘英李继东童坚程紫辉张金娥臧慕文(北京有色金属研究总院,北京100088)摘要:采用辉光放电质谱法(GD—MS)同时测定了高纯钨锭中66种痕量杂质元素。主要杂质元素(K,Ba等)的测定值与电感耦合等离子体质谱法(ICP—MS)定量分析结果经F检验和检验均验证在显著性水平为10%时,两者无显著性差异。试验表明GD—MS法对高纯钨锭的无标准样品的快速分析有较高的准确度。与ICP—MS法相比,GD—MS能直接分析固体样品,并具有分析元素多、测定范围广、检测限低、分析速度快等众多优点,已被公认为是最佳的高纯金属痕量杂质元素分析方法之一。关键词:高纯钨;辉光放电质谱法;痕量元素分析中图分类号:0657.63文献标志码:Adoi:10.3969/j.issn.1005-7854.2013.z1.036钨是目前熔点最高的金属,广泛应用于国防军事工业和机械工业中,已成为非常重要的基础材料。高纯钨具有对电子迁移的高电阻特性和高温稳定性,能够形成稳定的硅化物,在电子工业中常以薄膜形式用作栅极、连接和障碍金属¨。此外,高纯钨还常用于制造靶材、航空材料等,市场前景十分广阔。金属的纯度对于金属的应用起着非常重要的作用,痕量杂质的存在都会影响金属的特性,这就对高纯钨的分析测试方法提出了较高的要求。目前主要使用电感耦合等离子体质谱法(ICP.MS)。、离子交换色谱一发射光谱法等方法来分析高纯钨中痕量杂质元素,但试样一般需要先转换成溶液,试样的这种转换因稀释倍数较大会使方法的检出限和不确定度增大,同时也容易引入污染从而影响最终的分析结果。其它分析方法如火花源发射光谱法测定高纯钨的精密度和检出限均不理想,难以满足5N~6N(99.999%~99.9999%)高纯钨锭样品的分析测试要求。与上述方法相比,辉光放电质谱法(GD.MS)具有诸多显著优点。该法可对固体样品直接进行分析,样品的表面污染可通过一定时间的预溅射过程得以清除,离子源电离能力强,分析速度快,灵敏度基金项目:国家科技支撑计划项目(2006BAF07B02)资助作者简介:李宝城,助理工程师,研究方向为无机质谱和金属材料分析

得陇望蜀

34587篇文档

评论

发表评论
< /3 > 付费下载 金币 5 个

Powered by 石油人

Copyright © 石油人文库 All Rights Reserved. 辽ICP备05000285号-10
×
保存成功